Pengendalian Produk Below Standard (BS) Wafer Stick di PT XYZ dengan Menggunakan Aplikasi Statistical Process Control.
| dc.contributor.advisor | Syamsir, Elvira | |
| dc.contributor.author | Hermawan, Indri | |
| dc.date.accessioned | 2018-01-15T07:02:10Z | |
| dc.date.available | 2018-01-15T07:02:10Z | |
| dc.date.issued | 2017 | |
| dc.identifier.uri | http://repository.ipb.ac.id/handle/123456789/89316 | |
| dc.description.abstract | PT XYZ merupakan sebuah perusahaan yang konsisten bergerak dalam bidang industri pangan. Produk pangan yang dihasilkan salah satunya adalah wafer stick. Kapasitas proses produksi wafer stick yang besar menghasilkan mutu produk di bawah standar (Below Standard, BS) yang relatif besar sehingga perlu dilakukan pengendalian mutu secara statistik. Metode statistik yang digunakan untuk mengendalikan produk BS wafer stick adalah Statistical Process Control (SPC). Hasil menunjukkan bahwa jenis BS yang dominan pada proses produksi wafer stick adalah BS stick dan BS sheet. Penerapan perbaikan dengan menggunakan alat bantu SPC dapat menurunkan persentase BS stick dan BS sheet. Persentase BS stick dan BS sheet pada awal proses satu Shift sebelum dan sesudah perbaikan yaitu 5.81 ± 2.10% menjadi 5.59 ± 3.70% BS sheet dan 4.51 ± 2.55% menjadi 3.50 ± 1.06% BS stick. Kondisi proses produksi hari Senin perubahan BS sheet dan BS stick yaitu 2.93 ± 2.25% menjadi 2.22 ± 0.42% BS stick dan 3.49 ± 2.47% menjadi 3.49 ± 1.18% BS sheet. | id |
| dc.language.iso | id | id |
| dc.publisher | Bogor Agricultural University (IPB) | id |
| dc.subject.ddc | Food tehnology | id |
| dc.subject.ddc | Wafer Stick | id |
| dc.subject.ddc | 2016 | id |
| dc.subject.ddc | Batu Ceper-Tangerang | id |
| dc.title | Pengendalian Produk Below Standard (BS) Wafer Stick di PT XYZ dengan Menggunakan Aplikasi Statistical Process Control. | id |
| dc.type | Undergraduate Thesis | id |
| dc.subject.keyword | grafik kendali | id |
| dc.subject.keyword | mutu | id |
| dc.subject.keyword | SPC | id |
| dc.subject.keyword | wafer stick | id |
