| dc.description.abstract | Tujuan penelitian ini adalah untuk menentukan umur simpan produk wafer stick dan wafer flat yang diproduksi oleh PT Arnott's Indonesia. Umur simpan adalah waktu yang diperlukan oleh produk pangan dalam suatu kondisi penyimpanan untuk sampai pada suatu level atau tingkatan degradasi mutu tertentu. Dalam penelitian ini, umur simpan produk ditentukan dengan menggunakan metode ASLT (Accelerated Shelf Life Testing) berdasarkan pendekatan kadar air kritis.
Pada penentuan umur simpan, parameter-parameter yang ditentukan adalah kadar air awal (%bk), kadar air kritis (%bk), kadar air kesetimbangan (%bk), dan slope kurva sorpsi isothermis (b). Kadar air awal ditentukan dengan metode oven. Dari hasil perhitungan diperoleh kadar air awal produk wafer stick adalah sebesar 2.43%bk sedangkan kadar air awal produk wafer flat adalah sebesar 1.70 %bk. Kadar air kritis ditentukan dengan cara menyimpan sampel pada suhu 30°C dengan RH 43% untuk wafer flat dan RH 69% untuk wafer stick. Sampel yang dinyatakan telah hilang kerenyahannya atau melempem secara organoleptik ditetapkan sebagai kadar air kritisnya. Hasil pengujian memperlihatkan bahwa panelis sudah tidak dapat menerima sampel ketika sampel mencapai kadar air 3.67%bk untuk wafer flat dan 3.80%bk untuk wafer stick. Kadar air kesetimbangan ditentukan dengan menyimpan sampel di berbagai RH, yaitu RH 6.9% (NaOH); 32.4% (MgCl2.6H₂O); 43% (K2CO3); 69% (KI); 75% (NaCl); 84% (KCI); 90.3% (BaCl2.2H₂O); dan 98% (K2Cr2O7). Hasil kadar air kesetimbangan masing-masing sampel pada masing- masing RH kemudian diplotkan dengan nilai a, sehingga menghasilkan kurva sorpsi isothermis.
Untuk mendapatkan kurva dengan kemulusan yang tinggi digunakan lima model persamaan kurva sorpsi isothermis. Model-model tersebut antara lain, model Hasley, Chen-Clayton, Henderson, Caurie, dan Oswin. Semua persamaan tersebut diliniearkan dan ditentukan nilai konstantanya dengan metode kuadrat terkecil. Untuk mendapatkan model kurva yang dapat menggambarkan sorpsi isothermis secara tepat digunakan uji MRD (Mean Relative Determination). Dari hasil pengujian, persamaan Hasley dapat menggambarkan fenomena sorpsi isothermis dengan tepat untuk kedua jenis sampel. Masing-masing persamaan kurva sorpsi isothermis untuk wafer stick dan wafer flat adalah log(In(1/aw)) = 0.814195 1.415637 log Me dengan MRD sebesar 2.38 dan log(ln(1/aw)) = 0.647592 1.294219 log Me dengan MRD sebesar 2.88. Slope kurva sorpsi isothermis ditentukan berdasarkan rasio antara selisih kadar air awal dengan kadar air kritis terhadap selisih aktivitas air awal dengan aktivitas air kritis pada persamaan kurva sorpsi isothermis yang dipilih. Nilai slope kurva sorpsi isothermis yang diperoleh yaitu 6.31 untuk wafer stick dan 5.95 untuk wafer flat. ... | id |
