Penerapan Statistical Process Control (SPC) dalam pengendalian dimensi produk wafer stick di PT. Arnott's Indonesia, Bekasi

Abstract

Pengendalian proses secara statistik merupakan metode pengendalian proses yang dilakukan melalui gambaran statistik pergerakan data di antara rentang batas toleransi penyimpangan tertentu. Tujr~anu tama pengendalian proses secara statistik adalah pengurangan variasi yang sistematik dalam karakteristik mutu kunci produk guna meningkatkan mutu produk yang dihasilkan dalam memenuhi kebutuhan dan ekspektasi pelanggan. Salah satu mutu kunci produk wafer stick adalah dimensi yang meliputi panjang dan diameter. Parameter mutu ini seringkali tidak terkendali, oleh karena itu diperlukan suatu penerapan pengendalian proses secara statistik untuk menganalisis penyebab ketidakterkendalian mutu tersebut.