Prediksi Masa Kedaluwarsa Wafer Dengan Artificial Neural Network (Ann) Berdasarkan Parameter Nilai Kapasitansi

Abstract

Wafer adalah jenis makanan kering yang sering ditemukan kcdaluwarsa. Penentuan masa kedaluwarsa dengan observasi laboratorium memiliki beberapa kelemahan, diantaranya memakan waktu, panelis terlatih, suasana yang tepat, biaya dan alat uji yang kompleks. Alternatif solusinya adalah penggunaan Artificial Neural Network (ANN) berbasiskan parameter kapasitansi. Tujuan kerja ilmiah ini adalah untuk memprediksi masa kedaluwarsa wafer menggunakan ANN berbasiskan parameter kapasitansi. Algoritma pembclajaran yang digunakan adalah Backpropagation dengan trial and error variasi jumlah node per hidden layer, jumlah hidden layer, fungsi aktivasi, fungsi pembelajaran dan epoch. Hasil prediksi menunjukkan bahwa ANN hasil pelatihan yang dikombinasikan dengan parameter kapasitansi mampu memprediksi masa kedaluwarsa wafer dengan MSE terendah 0,0 I dan R tertinggi 89,25%.