Please use this identifier to cite or link to this item:
http://repository.ipb.ac.id/handle/123456789/75941
Title: | Prediksi Masa Kedaluwarsa Wafer Dengan Artificial Neural Network (Ann) Berdasarkan Parameter Nilai Kapasitansi |
Authors: | Saleh, Erna Rusliana Muhamad Noor, Erliza Djatna, Taufik lrzaman |
Issue Date: | 2013 |
Publisher: | Fakultas Teknologi Pertanian Universitas Gadjah Mada Perhimpunan Ahli Teknologi Pangan Indonesia Cabang Yogyakarta Perhimpunan Teknik Pertanian Cabang Yogyakarta |
Series/Report no.: | Volume 33,;No. 4, November 2013 |
Abstract: | Wafer adalah jenis makanan kering yang sering ditemukan kcdaluwarsa. Penentuan masa kedaluwarsa dengan observasi laboratorium memiliki beberapa kelemahan, diantaranya memakan waktu, panelis terlatih, suasana yang tepat, biaya dan alat uji yang kompleks. Alternatif solusinya adalah penggunaan Artificial Neural Network (ANN) berbasiskan parameter kapasitansi. Tujuan kerja ilmiah ini adalah untuk memprediksi masa kedaluwarsa wafer menggunakan ANN berbasiskan parameter kapasitansi. Algoritma pembclajaran yang digunakan adalah Backpropagation dengan trial and error variasi jumlah node per hidden layer, jumlah hidden layer, fungsi aktivasi, fungsi pembelajaran dan epoch. Hasil prediksi menunjukkan bahwa ANN hasil pelatihan yang dikombinasikan dengan parameter kapasitansi mampu memprediksi masa kedaluwarsa wafer dengan MSE terendah 0,0 I dan R tertinggi 89,25%. |
URI: | http://repository.ipb.ac.id/handle/123456789/75941 |
ISSN: | 0216-0455 |
Appears in Collections: | Faculty of Agricultural Technology |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
ART2013erm.pdf | Fulltext | 4.27 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.