Pengendalian Parameter Adonan dan Krim Terhadap Mutu Akhir Wafer Flat di PT XYZ

Abstract

AKMAL MUDHOFFAR AHMAD SYAEF. Pengendalian Parameter Adonan dan Krim Terhadap Mutu Akhir Wafer Flat di PT XYZ. Dibimbing oleh MADE GAYATRI ANGGARKASIH. Keberhasilan dalam mempertahankan dan meningkatkan mutu produk wafer flat menjadi tantangan utama bagi produsen terutama pada PT XYZ. Selama proses produksi, perusahaan seringkali menghadapi permasalahan berupa inkonsistensi proses produksi yang mengakibatkan parameter mutu adonan dan krim tidak sesuai dengan spesifikasi yang diterapkan. Parameter mutu adonan diantaranya pH, viskositas, temperatur, dan organoleptik, sedangkan parameter mutu krim yaitu kadar air, pH, viskositas, temperatur, particle size, dan organoleptik. Penelitian ini bertujuan untuk menganalisis kesesuaian mutu wafer flat berdasarkan parameter mutu adonan dan krim, serta menentukan tindak lanjut perbaikan jika terjadi ketidaksesuaian. Metode penelitian ini melibatkan observasi, pengumpulan data, analisis data dengan menggunakan check sheet dan bagan kendali X-Bar R. Pada parameter pH dan viskositas adonan terdapat variasi terutama pada X-Bar hari ke 17 dan 23, sedangkan viskositas adonan terdapat variasi pada hari ke ke-16 dan 20. Variasi mutu tersebut masih berada dalam batas kendali dengan demikian parameter mutu adonan dan krim pada PT XYZ masih sesuai spesifikasi. Kata kunci: adonan, krim, mutu, spesifikasi, wafer flat

AKMAL MUDHOFFAR AHMAD SYAEF. Control of Dough and Cream Parameters on The Final Quality of Wafer Flats at PT XYZ. Supervised by MADE GAYATRI ANGGARKASIH. Success in maintaining and improving the quality of wafer flat products is the main challenge for manufacturers, especially at PT XYZ. During the production process, companies often face problems in the form of inconsistencies in the production process which result in the quality parameters of the dough and cream not being in accordance with the specifications applied. The quality parameters of the dough include pH, viscosity, temperature, and organoleptic, while the quality parameters of the cream are moisture content, pH, viscosity, temperature, particle size, and organoleptic. This study aims to analyze the quality conformity of wafer flat based on the quality parameters of dough and cream, as well as determine follow-up improvements in case of non-conformities. This research method involves observation, data collection, data analysis using check sheets and R-Bar control charts. In the pH and viscosity parameters of the dough, there were variations, especially on the X-Bar on days 17 and 23, while the viscosity of the dough varied on days 16 and 20. The quality variation is still within the control limit, so the quality parameters of the dough and cream at PT XYZ are still in accordance with the specifications. Keywords: cream, dough, quality, specifications, wafer flat