Show simple item record

dc.contributor.authorR. Budiarti
dc.date.accessioned2015-10-05T03:34:42Z
dc.date.available2015-10-05T03:34:42Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.issn1412-677X
dc.identifier.urihttp://repository.ipb.ac.id/handle/123456789/76424
dc.description.abstractStudi yang mempelajari masalah pengukuran secara umum di bidang pendidikan dan mempelajari metode untuk menyelesaikannya, telah berkembang menjadi disiplin ilmu khusus yang dikenal dengan test theory. Test theory menyediakan kerangka kerja umum untuk melihat proses pembentukan instrumen tes (item lest). Analisis item dapat dilakukan dengan pendekatan tes teori k.Jasik (Classical Test Theory atau CTT) dan teori tes modern yang dikenal dengan Item Respons Theory (IR1). Ada beberapa model respon item (item response model), yang berbeda banyaknya parameter dalam model. Semua model /RT mengandung satu atau lebih parameter item dan satu atau lebih parameter examinee. Pada tulisan ini difokuskan pada model respon item dengan satu parameter e.xaminee dengan dua parameter item. Parameter-parameter ini tidak diketahui, untuk itu perlu diduga. Agar hasil dugaan relatif stabil dan akurat, rnaka diperlukan sample si:e yang cukup. Tujuan dari paper ini adalah (I) menginvestigasi pengaruh sample size (N) terhadap kestabilan item parameter estimate. (2) menginvestigasi pengaruh test length (11) terhadap kestabilan examinee parameter estimate. Kestabilan dugaan parameter item (a dan b) dipengaruhi oleh sample size, dan kestabilan parameter examinee ( 8) dipengaruhi oleh ukuran tesl length. Semakin besar sample size, maka pendugaan parameter item makin stabil, sedangkan semakin besar ukuran test length maka makin stabil dugaan parameter item.en
dc.language.isoid
dc.publisherDepartemen Matematika FMIPA - lnstitut Pertanian Bogor
dc.relation.ispartofseriesVOL. 12, NO. l, JULI 2013, 25-36;
dc.subject.ddcsample size (n)en
dc.subject.ddctest length (n)en
dc.subject.ddcstudi simulasien
dc.titlePengaruh Sample Size (N) Dan Test Length (n) Terhadap Item Parameter Estimate Dan Exam/Nee Parameter Estimate, Suatu Studi Simulasien
dc.typeArticleen


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record